提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X4相控阵探伤仪探测和定义更小的高温氢致（HTHA）裂纹 早期可靠地探测HTHA颇具挑战性，因此通常需要同时使用多种检测方法，以尽可能提高检出率。衍射时差（TOFD）、聚焦相控阵（PA）和全聚焦方式（TFM），特别是在使用双晶线阵（DLA）探头的情况下，已被证明是适合这种应用的特别有效的检测技术。 OmniScan X4 64探伤仪完全支持这些方法和创新型相位相干成像（PCI）技术，后者可增强探测微小缺陷和裂纹尖端的能力。